GB/T 34002-2017微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法国家标准

英文：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

GB/T 34002-2017介绍：

国家标准《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位北京科技大学。

主要起草人柳得橹 、郜欣 、权茂华 。

GB/T 34002-2017标准状态：

1. 发布于2017-07-12
2. 实施于2018-06-01
3. 废止

GB/T 34002-2017基础信息：

标准号：GB/T 34002-2017

发布日期：2017-07-12

实施日期：2018-06-01

中国标准分类号：G04

国际标准分类号： 71.040.40

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

执行单位：全国微束分析标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

GB/T 34002-2017采标情况：

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 29301:2010。

采标中文名称:微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法。

GB/T 34002-2017起草单位：

北京科技大学，

GB/T 34002-2017起草人：

柳得橹，郜欣，权茂华，