七点标准网英文：Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
GB/T 43748-2024介绍：
国家标准《微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位广东省科学院工业分析检测中心、南方科技大学、胜科纳米（苏州）股份有限公司。
主要起草人伍超群 、于洪宇 、乔明胜 、陈文龙 、周鹏 、邱杨 、黄晋华 、汪青 、程鑫 。
GB/T 43748-2024标准状态：
- 发布于2024-03-15
- 实施于2024-10-01
- 废止
GB/T 43748-2024基础信息：
标准号：GB/T 43748-2024
发布日期：2024-03-15
实施日期：2024-10-01
标准类别：方法
中国标准分类号：N 33
国际标准分类号： 71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 43748-2024起草单位：
广东省科学院工业分析检测中心，胜科纳米（苏州）股份有限公司，南方科技大学，
GB/T 43748-2024起草人：
伍超群， 于洪宇， 周鹏， 邱杨， 程鑫， 乔明胜，陈文龙，黄晋华，汪青，