七点标准网英文：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
GB/T 36655-2018介绍：
国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。
主要起草人封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。
GB/T 36655-2018标准状态：
- 发布于2018-09-17
- 实施于2019-01-01
- 废止
GB/T 36655-2018基础信息：
标准号：GB/T 36655-2018
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：L90
国际标准分类号： 31.030
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 36655-2018起草单位：
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心，汉高华威电子有限公司，江苏联瑞新材料股份有限公司，
GB/T 36655-2018起草人：
封丽娟，李冰，曹家凯，吕福发，陈进，夏永生，阮建军，王松宪，