英文:Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method
GB/T 4060-2018介绍:
国家标准《硅多晶真空区熔基硼检验方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、峨嵋半导体材料研究所。
主要起草人胡伟 、刘晓霞 、耿全荣 、鲁文锋 、王桃霞 、胡自强 、宗冰 、肖建忠 、万烨 、杨旭 。
GB/T 4060-2018标准状态:
- 发布于2018-09-17
- 实施于2019-06-01
- 废止
GB/T 4060-2018基础信息:
标准号:GB/T 4060-2018
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-06-01
全部代替标准:GB/T 4060-2007
中国标准分类号:H17
国际标准分类号: 77.040
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门:国家标准化管理委员会
GB/T 4060-2018替代以下标准:
全部代替GB/T 4060-2007
GB/T 4060-2018起草单位:
江苏中能硅业科技发展有限公司,洛阳中硅高科技有限公司,亚洲硅业(青海)有限公司,峨嵋半导体材料研究所,
GB/T 4060-2018起草人:
胡伟,刘晓霞,王桃霞,胡自强,万烨,杨旭,耿全荣,鲁文锋,宗冰,肖建忠,