七点标准网英文：Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
GB/T 34481-2017介绍：
国家标准《低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位云南中科鑫圆晶体材料有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中科院半导体研究所。
主要起草人惠峰 、普世坤 、董汝昆 。
GB/T 34481-2017标准状态：
- 发布于2017-10-14
- 实施于2018-07-01
- 废止
GB/T 34481-2017基础信息：
标准号：GB/T 34481-2017
发布日期：2017-10-14
实施日期：2018-07-01
中国标准分类号：H25
国际标准分类号： 77.040
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 34481-2017起草单位：
云南中科鑫圆晶体材料有限公司，中科院半导体研究所，云南临沧鑫圆锗业股份有限公司，
GB/T 34481-2017起草人：
惠峰，普世坤，董汝昆，