GB/T 34174-2017表面化学分析工作参考物质中离子注入产生的驻留面剂量定值的推荐程序国家标准

英文：Surface chemical analysis—Proposed procedure for certifying the retained areic dose in a working reference material produced by ion implantation

GB/T 34174-2017介绍：

国家标准《表面化学分析 工作参考物质中离子注入产生的驻留面剂量定值的推荐程序 》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位中国科学院化学研究所、中国石化石油化工科学研究院、国家纳米科学中心。

主要起草人邱丽美 、刘芬 、徐鹏 、刁玉霞 、赵志娟 、章小余 。

GB/T 34174-2017标准状态：

1. 发布于2017-09-07
2. 实施于2018-08-01
3. 废止

GB/T 34174-2017基础信息：

标准号：GB/T 34174-2017

发布日期：2017-09-07

实施日期：2018-08-01

中国标准分类号：G04

国际标准分类号： 71.040.40

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

执行单位：全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会

主管部门：国家标准化管理委员会

GB/T 34174-2017采标情况：

本标准等同采用ISO国际标准：ISO/TR 16268:2009。

采标中文名称:表面化学分析 验证工作参考物质中离子植入产生的保留面剂量的建议规程 。

GB/T 34174-2017起草单位：

中国科学院化学研究所，国家纳米科学中心，中国石化石油化工科学研究院，

GB/T 34174-2017起草人：

邱丽美，刘芬，赵志娟，章小余，徐鹏，刁玉霞，