七点标准网英文：Test method for dislocation density of monocrystal germanium
GB/T 5252-2020介绍：
国家标准《锗单晶位错密度的测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司。
主要起草人张路 、冯德伸 、马会超 、普世坤 、姚康 、刘新军 、郭荣贵 、向清华 、韦圣林 、黄洪伟文 。
GB/T 5252-2020标准状态：
- 发布于2020-06-02
- 实施于2021-04-01
- 废止
GB/T 5252-2020基础信息：
标准号：GB/T 5252-2020
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-04-01
全部代替标准：GB/T 5252-2006
中国标准分类号：H21
国际标准分类号： 77.040
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 5252-2020替代以下标准：
全部代替GB/T 5252-2006
GB/T 5252-2020起草单位：
有研光电新材料有限责任公司，国合通用测试评价认证股份公司，中国电子科技集团公司第四十六研究所，中锗科技有限公司，北京国晶辉红外光学科技有限公司，云南临沧鑫圆锗业股份有限公司，广东先导稀材股份有限公司，义乌力迈新材料有限公司，
GB/T 5252-2020起草人：
张路，冯德伸，姚康，刘新军，韦圣林，黄洪伟文，马会超，普世坤，郭荣贵，向清华，