GB/T 33236-2016多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法国家标准

英文：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

GB/T 33236-2016介绍：

国家标准《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。

主要起草人卓尚军 、钱荣 、董疆丽 、申如香 、盛成 、高捷 、郑文平 。

GB/T 33236-2016标准状态：

1. 发布于2016-12-13
2. 实施于2017-11-01
3. 废止

GB/T 33236-2016基础信息：

标准号：GB/T 33236-2016

发布日期：2016-12-13

实施日期：2017-11-01

标准类别：方法

中国标准分类号：G04

国际标准分类号： 71.040.40

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

执行单位：全国微束分析标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

GB/T 33236-2016起草单位：

中国科学院上海硅酸盐研究所，

GB/T 33236-2016起草人：

卓尚军，钱荣，盛成，高捷，董疆丽，申如香，郑文平，

GB/T 33236-2016查看地址：

【GB/T 33236-2016】