七点标准网英文：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
GB/T 43035-2023介绍：
国家标准《半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人王婷婷 、呂红杰 、冯玲玲 、王琪 、李林森 、雷剑 、张亚娟 。
GB/T 43035-2023标准状态：
- 发布于2023-09-07
- 实施于2023-09-07
- 废止
GB/T 43035-2023基础信息：
标准号：GB/T 43035-2023
发布日期：2023-09-07
实施日期：2023-09-07
标准类别：方法
中国标准分类号：L57
国际标准分类号： 31.200
归口单位：全国集成电路标准化技术委员会
执行单位：全国集成电路标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 43035-2023采标情况：
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-20-1:1994。
采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求。
GB/T 43035-2023起草单位：
中国电子科技集团公司第四十三研究所，中国电子技术标准化研究院，
GB/T 43035-2023起草人：
王婷婷， 呂红杰， 李林森， 雷剑， 冯玲玲，王琪，张亚娟，