七点标准网英文：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
GB/T 43063-2023介绍：
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司。
主要起草人李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。
GB/T 43063-2023标准状态：
- 发布于2023-09-07
- 实施于2024-01-01
- 废止
GB/T 43063-2023基础信息：
标准号：GB/T 43063-2023
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
标准类别：方法
中国标准分类号：L54
国际标准分类号： 31.200
归口单位：全国集成电路标准化技术委员会
执行单位：全国集成电路标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 43063-2023起草单位：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，天津大学，中国电子技术标准化研究院，重庆光电技术研究所，长春精测光电技术有限公司，深圳佑驾创新科技有限公司，
GB/T 43063-2023起草人：
李俊霖， 张涛， 赵宇， 聂真威， 马洪涛， 卢岩， 唐延甫， 聂凯明， 马悦， 刘国清， 兰太吉，杨永强，韩冰，金辉，徐江涛，刘昌举，李金，高志远，王琪，刘秀娟，