英文:Displacement damage test method for components
GB/T 42969-2023介绍:
国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学。
主要起草人罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。
GB/T 42969-2023标准状态:
- 发布于2023-09-07
- 实施于2024-01-01
- 废止
GB/T 42969-2023基础信息:
标准号:GB/T 42969-2023
发布日期:2023-09-07
实施日期:2024-01-01
标准类别:方法
中国标准分类号:L56
国际标准分类号: 31.200
归口单位:全国集成电路标准化技术委员会
执行单位:全国集成电路标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
GB/T 42969-2023起草单位:
中国空间技术研究院,西北核技术研究院,中国科学院新疆理化技术研究所,中国工程物理研究院核物理与化学研究所,中国电子科技集团公司第四十四研究所,扬州大学,
GB/T 42969-2023起草人:
罗磊, 于庆奎, 张洪伟, 郑春, 汪朝敏, 李豫东, 唐民,朱恒静,陈伟,丁李利,文林,薛玉雄,