七点标准网英文：Test method for the content of metal impurity in electronic grade polysilicon—Inductively coupled-plasma mass spectrometry method
GB/T 37049-2018介绍：
国家标准《电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位江苏中能硅业科技发展有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、有研半导体材料有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、新特能源股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司。
主要起草人鲁文锋 、刘晓霞 、秦榕 、孙燕 、赵而敬 、王桃霞 、赵玉 、王忠慧 、柳德发 、张园园 、银波 、邱艳梅 、刘强 。
GB/T 37049-2018标准状态：
- 发布于2018-12-28
- 实施于2019-04-01
- 废止
GB/T 37049-2018基础信息：
标准号：GB/T 37049-2018
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-04-01
中国标准分类号：H17
国际标准分类号： 77.040.30
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 37049-2018起草单位：
江苏中能硅业科技发展有限公司，有研半导体材料有限公司，新特能源股份有限公司，青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司，宜昌南玻硅材料有限公司，洛阳中硅高科技有限公司，
GB/T 37049-2018起草人：
鲁文锋，刘晓霞，赵而敬，王桃霞，柳德发，张园园，刘强，秦榕，孙燕，赵玉，王忠慧，银波，邱艳梅，