七点标准网英文：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
GB/T 37051-2018介绍：
国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司。
主要起草人李锋 、李英叶 、段青春 、张伟 、吴翠姑 、冯亚彬 、裴会川 、程小娟 、唐骏 。
GB/T 37051-2018标准状态：
- 发布于2018-12-28
- 实施于2019-04-01
- 废止
GB/T 37051-2018基础信息：
标准号：GB/T 37051-2018
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-04-01
中国标准分类号：H80
国际标准分类号： 29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 37051-2018起草单位：
英利集团有限公司，江西赛维LDK太阳能高科技有限公司，晋能清洁能源科技有限公司，天津英利新能源有限公司，中国电子技术标准化研究院，泰州中来光电科技有限公司，镇江仁德新能源科技有限公司，
GB/T 37051-2018起草人：
李锋，李英叶，吴翠姑，冯亚彬，唐骏，段青春，张伟，裴会川，程小娟，