标签：半导体材料国家标准

英文：Collection of metallographs on defects in silicon carbide crystal materials GB/T 43612-2023介绍： 国家标准《碳化硅晶体材料缺陷图谱》由TC20...

英文：Patterned sapphire substrate GB/T 43662-2024介绍： 国家标准《蓝宝石图形化衬底片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委...

英文：Polished monocrystalline silicon carbide wafers GB/T 30656-2023介绍： 国家标准《碳化硅单晶抛光片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC...

英文：Monocrystalline sapphire bar GB/T 31092-2022介绍： 国家标准《蓝宝石单晶晶棒》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会...

英文：Electronic-grade polycrystalline silicon GB/T 12963-2022介绍： 国家标准《电子级多晶硅》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备...

英文：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass sp...

英文：Low density crystal originated pit polished monocrystalline silicon wafers for integrated circuit GB/T 41325-2022介绍： ...

英文：Silicon electrode and silicon ring for plasma etching machine GB/T 41652-2022介绍： 国家标准《刻蚀机用硅电极及硅环》由TC203（全国半导体设备和材料标准化...

英文：Specification for alphanumeric marking of silicon wafers GB/T 34479-2017介绍： 国家标准《硅片字母数字标志规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会...

英文：Solar-grade polycrystalline silicon GB/T 25074-2017介绍： 国家标准《太阳能级多晶硅》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会...