英文:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
GB/T 4937.20-2018介绍:
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院。
主要起草人高金环 、彭浩 、高瑞鑫 、沈彤茜 、裴选 、刘玮 。
GB/T 4937.20-2018标准状态:
- 发布于2018-09-17
- 实施于2019-01-01
- 废止
GB/T 4937.20-2018基础信息:
标准号:GB/T 4937.20-2018
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-01-01
中国标准分类号:L40
国际标准分类号: 31.080.01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
GB/T 4937.20-2018采标情况:
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-20:2008。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响。
GB/T 4937.20-2018起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所,深圳市标准技术研究院,
GB/T 4937.20-2018起草人:
高金环,彭浩,裴选,刘玮,高瑞鑫,沈彤茜,