七点标准网英文：Probe test method for light emitting diode chips
GB/T 36613-2018介绍：
国家标准《发光二极管芯片点测方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司。
主要起草人蔡伟智 、梁奋 、刘秀娟 、李国煌 、吕艳 、金威 、邵晓娟 、周钢 、时军朋 。
GB/T 36613-2018标准状态：
- 发布于2018-09-17
- 实施于2019-01-01
- 废止
GB/T 36613-2018基础信息：
标准号：GB/T 36613-2018
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：L45
国际标准分类号： 31.260
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 36613-2018起草单位：
三安光电股份有限公司，中国电子技术标准化研究院，厦门市三安光电科技有限公司，广州赛西标准检测研究院有限公司，
GB/T 36613-2018起草人：
蔡伟智，梁奋，吕艳，金威，时军朋，刘秀娟，李国煌，邵晓娟，周钢，