GB/T 4937.11-2018半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法国家标准

英文：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

GB/T 4937.11-2018介绍：

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人张天福 、高金环 、彭浩 、李树杰 、于学东 、崔波 、裴选 、迟雷 、张艳杰 。

GB/T 4937.11-2018标准状态：

1. 发布于2018-09-17
2. 实施于2019-01-01
3. 废止

GB/T 4937.11-2018基础信息：

标准号：GB/T 4937.11-2018

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

GB/T 4937.11-2018采标情况：

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-11:2002。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法。

GB/T 4937.11-2018起草单位：

中国电子科技集团公司第十三研究所，

GB/T 4937.11-2018起草人：

张天福，高金环，于学东，崔波，张艳杰，彭浩，李树杰，裴选，迟雷，