七点标准网英文：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
GB/T 36477-2018介绍：
国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。
主要起草人菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。
GB/T 36477-2018标准状态：
- 发布于2018-06-07
- 实施于2019-01-01
- 废止
GB/T 36477-2018基础信息：
标准号：GB/T 36477-2018
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：L56
国际标准分类号： 31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 36477-2018起草单位：
中国电子技术标准化研究院，上海复旦微电子集团股份有限公司，北京兆易创新科技股份有限公司，中兴通讯股份有限公司，中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，深圳市中兴微电子技术有限公司，复旦大学，
GB/T 36477-2018起草人：
菅端端，陈大为，冯光涛，倪昊，田万廷，高硕，钟明琛，罗晓羽，赵子鉴，董艺，闵昊，刘刚，