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GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法国家标准

英文:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators

GB/T 4377-2018介绍:

国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位圣邦微电子(北京)股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司。

主要起草人王鸿儒 、袁莹莹 、邹臣 、朱华 、张宝华 、张冰 、陈志培 、罗彬 。

GB/T 4377-2018标准状态:

  1. 发布于2018-03-15
  2. 实施于2018-08-01
  3. 废止

GB/T 4377-2018基础信息:

标准号:GB/T 4377-2018

发布日期:2018-03-15

实施日期:2018-08-01

全部代替标准:GB/T 4377-1996

中国标准分类号:L56

国际标准分类号: 31.200

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

GB/T 4377-2018替代以下标准:

全部代替GB/T 4377-1996

GB/T 4377-2018起草单位:

圣邦微电子(北京)股份有限公司,成都振芯科技股份有限公司,中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所,北京宇翔电子有限公司,

GB/T 4377-2018起草人:

王鸿儒,袁莹莹,张宝华,张冰,邹臣,朱华,陈志培,罗彬,

GB/T 4377-2018查看地址:

【GB/T 4377-2018】

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文章名称:《GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法国家标准》
文章链接:http://www.zhengce.xyz/17039.html
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