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GB/T 35007-2018半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法国家标准

英文:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

GB/T 35007-2018介绍:

国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。

主要起草人陈雁 、罗彬 、郭超 、王会影 、李锟 、蔡志刚 、邬海忠 、钟科 。

GB/T 35007-2018标准状态:

  1. 发布于2018-03-15
  2. 实施于2018-08-01
  3. 废止

GB/T 35007-2018基础信息:

标准号:GB/T 35007-2018

发布日期:2018-03-15

实施日期:2018-08-01

中国标准分类号:L56

国际标准分类号: 31.200

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

GB/T 35007-2018起草单位:

成都振芯科技股份有限公司,工业和信息化部电子第五研究所,深圳市众志联合电子有限公司,工业和信息化部电子工业标准化研究院,深圳市国微电子有限公司,中国电子科技集团公司第二十九研究所,

GB/T 35007-2018起草人:

陈雁,罗彬,李锟,蔡志刚,郭超,王会影,邬海忠,钟科,

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【GB/T 35007-2018】

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文章名称:《GB/T 35007-2018半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法国家标准》
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