英文:Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances
GB/T 33922-2017介绍:
国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中北大学。
主要起草人张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。
GB/T 33922-2017标准状态:
- 发布于2017-07-12
- 实施于2018-02-01
- 废止
GB/T 33922-2017基础信息:
标准号:GB/T 33922-2017
发布日期:2017-07-12
实施日期:2018-02-01
中国标准分类号:L55
国际标准分类号: 31.200
归口单位:全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位:全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
GB/T 33922-2017起草单位:
北京大学,北京必创科技股份有限公司,中北大学,中机生产力促进中心,中国电子科技集团公司第十三研究所,
GB/T 33922-2017起草人:
张威,程红兵,崔波,石云波,陈得民,李海斌,朱悦,