GB/T 33657-2017纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范国家标准

英文：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

GB/T 33657-2017介绍：

国家标准《纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国科学院上海微系统与信息技术研究所。

主要起草人陈一峰 、陈小刚 、宋志棠 。

GB/T 33657-2017标准状态：

1. 发布于2017-05-12
2. 实施于2017-12-01
3. 废止

GB/T 33657-2017基础信息：

标准号：GB/T 33657-2017

发布日期：2017-05-12

实施日期：2017-12-01

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200

归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会

执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会

主管部门：中国科学院

GB/T 33657-2017起草单位：

中国科学院上海微系统与信息技术研究所，

GB/T 33657-2017起草人：

陈一峰，陈小刚，宋志棠，

GB/T 33657-2017查看地址：

【GB/T 33657-2017】