GB/T 4937.12-2018半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动国家标准

英文：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

GB/T 4937.12-2018介绍：

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人迟雷 、彭浩 、岳振鹏 、李树杰 、崔波 、高金环 、裴选 、张艳杰 。

GB/T 4937.12-2018标准状态：

1. 发布于2018-09-17
2. 实施于2019-01-01
3. 废止

GB/T 4937.12-2018基础信息：

标准号：GB/T 4937.12-2018

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

GB/T 4937.12-2018采标情况：

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-12:2002。

采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动。

GB/T 4937.12-2018起草单位：

中国电子科技集团公司第十三研究所，

GB/T 4937.12-2018起草人：

迟雷，彭浩，崔波，高金环，岳振鹏，李树杰，裴选，张艳杰，