七点标准网英文：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
GB/T 36474-2018介绍：
国家标准《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、西安紫光国芯半导体有限公司、上海高性能集成电路设计中心、武汉芯动科技有限公司、成都华微电子科技有限公司。
主要起草人孔宪伟 、殷梦迪 、尹萍 、巨鹏锦 、高专 、刘建明 。
GB/T 36474-2018标准状态：
- 发布于2018-06-07
- 实施于2019-01-01
- 废止
GB/T 36474-2018基础信息：
标准号：GB/T 36474-2018
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：L56
国际标准分类号： 31.200
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 36474-2018起草单位：
中国电子技术标准化研究院，上海高性能集成电路设计中心，成都华微电子科技有限公司，西安紫光国芯半导体有限公司，武汉芯动科技有限公司，
GB/T 36474-2018起草人：
孔宪伟，殷梦迪，高专，刘建明，尹萍，巨鹏锦，