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GB/T 35006-2018半导体集成电路电平转换器测试方法国家标准

英文:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

GB/T 35006-2018介绍:

国家标准《半导体集成电路 电平转换器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。

主要起草人宦承永 、邬海忠 、陆坚 、魏军 、王小强 、罗彬 。

GB/T 35006-2018标准状态:

  1. 发布于2018-03-15
  2. 实施于2018-08-01
  3. 废止

GB/T 35006-2018基础信息:

标准号:GB/T 35006-2018

发布日期:2018-03-15

实施日期:2018-08-01

中国标准分类号:L56

国际标准分类号: 31.200

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

GB/T 35006-2018起草单位:

深圳市国微电子有限公司,工业和信息化部电子第五研究所,中国电子科技集团公司第五十八研究所,成都振芯科技股份有限公司,

GB/T 35006-2018起草人:

宦承永,邬海忠,王小强,罗彬,陆坚,魏军,

GB/T 35006-2018查看地址:

【GB/T 35006-2018】

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文章名称:《GB/T 35006-2018半导体集成电路电平转换器测试方法国家标准》
文章链接:http://www.zhengce.xyz/17089.html
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