七点标准网英文：Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide
GB/T 8760-2020介绍：
国家标准《砷化镓单晶位错密度的测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位有研光电新材料有限责任公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、中国电子科技集团第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、雅波拓（福建）新材料有限公司。
主要起草人赵敬平 、林泉 、于洪国 、惠峰 、刘淑凤 、姚康 、许所成 、许兴 、马英俊 、王彤涵 、赵素晓 、韦圣林 、陈晶晶 、付萍 。
GB/T 8760-2020标准状态：
- 发布于2020-09-29
- 实施于2021-08-01
- 废止
GB/T 8760-2020基础信息：
标准号：GB/T 8760-2020
发布日期：2020-09-29
实施日期：2021-08-01
全部代替标准：GB/T 8760-2006
中国标准分类号：H21
国际标准分类号： 77.040
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门：国家标准化管理委员会
GB/T 8760-2020替代以下标准：
全部代替GB/T 8760-2006
GB/T 8760-2020起草单位：
有研光电新材料有限责任公司，国合通用测试评价认证股份公司，广东先导稀材股份有限公司，云南临沧鑫圆锗业股份有限公司，中国电子科技集团第四十六研究所，雅波拓（福建）新材料有限公司，
GB/T 8760-2020起草人：
赵敬平，林泉，刘淑凤，姚康，马英俊，王彤涵，陈晶晶，付萍，于洪国，惠峰，许所成，许兴，赵素晓，韦圣林，