英文:Optics and photonics—Microlens array—Part 2:Test methods for wavefront aberrations
GB/T 41869.2-2022介绍:
国家标准《光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法》由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口,TC103SC6(全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会)执行,主管部门为中国机械工业联合会。
主要起草单位中国兵器工业标准化研究所、电子科技大学、中国科学院重庆绿色智能技术研究院、南京迈得特光学有限公司、西安西谷微电子有限责任公司、浙江伟星光学有限公司、上海瑞立柯信息技术有限公司。
主要起草人孟凡萍 、朱懿 、李斌成 、张卫国 、姜绪木 、王金玉 、杨宏杰 、汪松 、汪瑶 。
GB/T 41869.2-2022标准状态:
- 发布于2022-10-14
- 实施于2023-05-01
- 废止
GB/T 41869.2-2022基础信息:
标准号:GB/T 41869.2-2022
发布日期:2022-10-14
实施日期:2023-05-01
标准类别:方法
中国标准分类号:L51
国际标准分类号: 31.260
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会
执行单位:全国光学和光子学标准化技术委员会
主管部门:中国机械工业联合会
GB/T 41869.2-2022采标情况:
本标准修改采用ISO国际标准:ISO 14880-2:2006。
采标中文名称:光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法。
GB/T 41869.2-2022起草单位:
中国兵器工业标准化研究所,中国科学院重庆绿色智能技术研究院,西安西谷微电子有限责任公司,上海瑞立柯信息技术有限公司,电子科技大学,南京迈得特光学有限公司,浙江伟星光学有限公司,
GB/T 41869.2-2022起草人:
孟凡萍,朱懿,姜绪木,王金玉,汪瑶,李斌成,张卫国,杨宏杰,汪松,